Ученые Северо-Осетинского государственного университета имени К.Л. Хетагурова усовершенствовали растровый электронный микроскоп

Об этом сообщили в министерстве образования и науки России. Ученые разработали для микроскопа детектор тормозного рентгеновского излучения, позволяющий получить больше информации об исследуемом объекте. Устройство защищено патентом.

Обычный растровый электронный микроскоп предназначен для исследования с высоким разрешением поверхности изучаемого образца. Разработанный детектор позволяет «увидеть» его подповерхностную структуру на глубину до 1 мкм.

В основе работы устройства заложен принцип сканирования объекта электронным лучом. Луч проникает на небольшую глубину и естественным образом тормозится. В результате возникает тормозное рентгеновское излучение, которое буквально просвечивает образец изнутри. По интенсивности поглощения рентгеновского излучения можно судить о плотности различных участков образца.